半自動臺階儀 JS100B 參考價：300000
半自動臺階儀 JS100B 國產半自動臺階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS100B...
手動臺階儀 JS10B 參考價：250000
國產手動手動臺階儀 JS10B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS10B提供一個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變...
全自動臺階儀 JS2000B 參考價：400000
國產全全自動臺階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，...
全自動臺階儀 JS3000B 參考價：500000
國產全自動臺階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可...
ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡 參考價：700000
ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿...
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡 參考價：600000
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。
ZEM20臺式掃描電子顯微鏡 參考價：600000
ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。
ZEM18臺式掃描電子顯微鏡 參考價：450000
ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡 參考價：450000
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸...
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：600000
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實...
澤攸ZEM15臺式掃描電子顯微鏡 參考價：380000
▲ 即插即用：用戶可以快速使用，無需復雜的安裝過程。▲ 體積小巧：便于放置在普通的實驗臺面上，節省空間。▲ 高性價比：預對中鎢燈絲設計，用戶可以自行更換，降低了...
ZEM15C臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15C臺式掃描電鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩定的設計目標，澤攸科技自主研發了鎢燈絲ZEM15C臺式掃描電子顯微鏡。
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統，原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06產品特點，真空腔體：真空度優于610-4 Pa。降溫后優于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研...
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